In circuit test

In circuit test: Der "In-Circuit Test" (ICT) ist eine Methode, die im Elektronikfertigungsprozess verwendet wird, um die Funktionalität und Integrität einzelner Komponenten auf einer Leiterplatte (PCB) zu überprüfen. Dieser Test wird durchgeführt, während die Komponenten noch auf der Leiterplatte gelötet sind, und die Platine wird während des Tests nicht mit Strom versorgt.

In circuit test: Das Hauptziel des ICT besteht darin, Fehler in den elektronischen Komponenten zu identifizieren, wie z.B. Widerstände, Kondensatoren, integrierte Schaltkreise und andere passive und aktive Bauelemente, sowie auf Kurzschlüsse und Unterbrechungen zu überprüfen.

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