ICT: Testpunkte oder Sonden werden verwendet, um Kontakt mit bestimmten Knotenpunkten oder Anschlüssen der Komponenten auf der Leiterplatte herzustellen. Das ICT-System sendet Testsignale durch diese Punkte und misst die Reaktionen, um festzustellen, ob die Komponenten korrekt funktionieren. |
ICT: Der In-Circuit-Test wird in der Regel mit spezialisierten automatisierten Prüfausrüstungen (ATE) durchgeführt, die als In-Circuit-Tester bekannt sind. Diese Tester sind mit einer Nadelbettvorrichtung ausgestattet, die zahlreiche Sonden enthält, die Kontakt mit bestimmten Punkten auf der Leiterplatte herstellen. |
In circuit testICT |
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